本文標題："試樣的深度X射線分辨率取決于元素的原子序數"

發布者：YIYI ------ 分類: 站內動態 ------ 人瀏覽過 -----時間：2015-10-17 12:9:35

試樣的深度X射線分辨率取決于元素的原子序數

    電子射入一定試樣的深度也就是電子束電壓的函數，利用這
種特性，可探知大塊基本材料分布的表面濃度，同樣可以使處在
很薄的。
    表層，例如電鍍層、薄膜以及銹蝕層下的材料也能探測出來。
深度的判別只能是定性的，除非具有很大范圍和經過校準的標度，
清楚地了解表面沉積物的性質，才能進行準確的深度鑒別。
    空間分辨率取決于試樣的性質、所用加速電壓以及對電子信
號的利用，而不取決于電子轟擊下試樣所發射的X射線。電子束
被聚焦到直徑只有0.8微米大小的光點，并以此直徑散射出來。另
一方面，X射線是從被探測物質元素的某一體積發出，在該體積
中浸射電子由于碰撞而有足夠的能量交換，從而產生特定的X射
線。X射線的分辨率取決于元素的原子序數，或樣品的平均電子
密度。

后一篇文章：特定X射線的強度與試樣元素含量以及從純元素檢測 »
前一篇文章：« 樣品的大小元素在類似電子微探針工作的分析

tags:光學顯微鏡,偏光顯微鏡,微生物,成像儀器,技術,數碼顯微鏡,實驗,科學,生物顯微鏡,精密儀器,

試樣的深度X射線分辨率取決于元素的原子序數,熒光顯微鏡現貨供應

本頁地址：http://www.tyjm.com.cn/wz/2188.html轉載注明
本站地址：http://www.tyjm.com.cn/
http://www.xianweijing.org/