本文標(biāo)題："間鏡孔徑圈選試片微小區(qū)域的繞射圖形"
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繞射圖形上繞射點(diǎn)距中心點(diǎn)的距離僅隨繞射角θ變化而改變，每一個(gè)繞射點(diǎn)都可代表一個(gè)對應(yīng)的平面。
因此從繞射圖形中，我們可以得到關(guān)于晶面間距及夾角的資訊，并進(jìn)而得到材料的成分組成與晶體結(jié)構(gòu)等重要資訊。
此外，繞射圖形也能透露出結(jié)晶性質(zhì)的資訊，完美的單晶會得到規(guī)則的點(diǎn)陣圖形，多晶的試片則會導(dǎo)致環(huán)狀的繞射圖形，
至于非晶質(zhì)材料則不會有繞射點(diǎn)的出現(xiàn)。
此外，我們也能以中間鏡孔徑圈選試片中特定的局部區(qū)域來得到微小區(qū)域的繞射圖形，
此種選區(qū)繞射(selected area diffraction)方式在觀察多晶或多相試片時(shí)將特別有幫助。
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間鏡孔徑圈選試片微小區(qū)域的繞射圖形,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
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