本文標題："微分干涉差顯微鏡的技術了解專業的平面檢測儀器"

發布者：MISS-GU ------ 分類: 技術文章 ------ 人瀏覽過 -----時間：2016-4-4 9:33:22

微分干涉差顯微鏡的技術了解專業的平面檢測儀器

   微分干涉差顯微鏡還可以用字母來代替，稱為DIC
顯微鏡，其使用的光源主要是平面偏振的狀態，

   光源使用中，其光線需要經過棱鏡，之后就會產生
折射的現象，從而光就會被分成兩束，經過相鄰試樣
的時候不是在同一個時間進行的，其光線的會合
需要經過另一個棱鏡，
  
   這種DIC顯微鏡的設計有個很好的優點，那就是其
觀測的結構都是立體的感覺，呈現出來的影像也是三
維立體的效果，

   微分干涉差顯微鏡的使用是不同于相差顯微鏡的，
相比相差，DIC所觀測的試樣是可以厚一些的，

   還有一個大的優點，那么就是其使用的折射率之
間的差別是很到的，這樣，我們看到的物象才會
顯得更加的具有立體感。

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