本文標題："不連續晶體中的構造晶格光學測量顯微鏡的應用"
發布者：YIYI ------ 分類: 站內動態 ------ 人瀏覽過 -----時間：2015-3-13 9:5:25
不連續晶體中的構造晶格光學測量顯微鏡的應用
結晶學域中的不連續晶體中的構造不連續面和不線（即
晶格面和晶格方向）不能直接看到，因為它們出現在原子的
規模上。
不過，它們的方位可以根據晶體光性與結晶特征之間的
一些已知關系用光學方法測定，或是通過觀察比原子規模大
得多的有關物理性不連續體（解理、雙晶紋、裂理等等）
來直接地確定。晶體內部不連續面的完整概念是通過X
光分析建立的
因為一個晶體除了在小規模上外總是一個均勻域，所
以整個晶體的某種特定構造不連續面或不連續線的方位用一
個觀測結果就能全部代表。
這種不連續體在此稱為慣穿不連續體，因為它們重復出
現的間距與整個晶體相比是如此之小，以致可以認為它們均
勻地遍及整個晶體，出現在每一點上。
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