本文標(biāo)題："斷口復(fù)型技術(shù)簡(jiǎn)介-斷口光學(xué)顯微鏡一般使用低倍"

斷口復(fù)型技術(shù)簡(jiǎn)介-斷口光學(xué)顯微鏡一般使用低倍

斷口復(fù)型技術(shù)和在SEM上直接觀察斷口技術(shù)的發(fā)展促進(jìn)了

斷口形貌定量化以及斷口形貌與性能和工作特性之間關(guān)系研

究的進(jìn)展，在這些方法出現(xiàn)之前，僅限于對(duì)斷口或斷口剖面

的光學(xué)顯微鏡觀察，通常是低倍下進(jìn)行。

由于大多數(shù)斷口表面不是平面，除了在斷口剖面上測(cè)量外

，光學(xué)顯微鏡的用途的局限性，復(fù)型技術(shù)很難用于延性斷口

，但它們確有優(yōu)點(diǎn)，那就是復(fù)型的某種程度的塌陷使它們

顯得更平一些，SEM觀察是直接的而且不存在人工復(fù)制問(wèn)題

。現(xiàn)代的SEM的分辨率已不再是一個(gè)限制因素了，圖象的畸

變依然存在，但這不是主要問(wèn)題。因此，分析判斷和試樣制

備都很簡(jiǎn)單。如果在SEM上進(jìn)行測(cè)量，就是在圖象的反差和

分辨率上有所損失也要避免傾斜試樣，否則就必須對(duì)傾斜作

出修正。

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