本文標(biāo)題："了解顯微技術(shù)中的剪切力反饋模式"

發(fā)布者：YIYI ------ 分類: 技術(shù)文章 ------ 人瀏覽過 -----時(shí)間：2014-4-28 10:43:15

了解顯微技術(shù)中的剪切力反饋模式

剪切力反饋模式是指將頻率振蕩的探針接近試樣外面的時(shí)候，振蕩的針尖跟試
樣之間所存在的作用力，這時(shí)振蕩的幅度跟相位都會(huì)產(chǎn)生很大的變化，可以將
探針限制在5納米到20納米范圍之間，剪切力反饋模式不需要參考激光的介入，
它是一種非光學(xué)的距離調(diào)控方式，可以使光學(xué)所成的圖像具有更高的真實(shí)性，
Zhu.Huang等一些人所研究并發(fā)明的超聲共振式主要采用的就是剪切力反饋模式
，蔡薇跟其它一些學(xué)者應(yīng)用并發(fā)明這個(gè)方法，因此提出可雙壓電陶瓷片的反射
式，然而針尖跟試樣之間剪切力的作用機(jī)制的研究，是經(jīng)過采用濕度不一樣和
介質(zhì)不一樣的條件下量測(cè)的音叉微電流跟探針與試樣之間距離的曲線來證明。

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